禾一儀器
“日東精工（Nittoseiko Analytech）分析科技
株式會(huì)社”電阻抗率分析儀器中國(guó)總代理
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0769-8201 2606
132 1536 5008 -
“日東精工（Nittoseiko Analytech）分析科技
株式會(huì)社”電阻抗率分析儀器中國(guó)總代理
0769-8201 2606
132 1536 5008
Product Classification
0769-82012606
132-1536-5008
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Loresta Series 低阻抗率計(jì) MCP-T360| MCP-T370| MCP-T610|MCP-700?四探針探頭附件中國(guó)總代理：
四探針探頭：??
ASP探頭MCP-TP03P (RMH110)， 適合測(cè)試大多數(shù)樣品 間距5mm，針尖距離0.37R×4支，壓力210gf/支
ESP探頭MCP-TP08P (RMH114) 適合不規(guī)則樣品測(cè)試 間距?5mm，直徑2mm×4支，壓力：240gf/支 ?
LSP探頭MCP-TPLSP (RMH116) 適合柔軟的表面樣本測(cè)試 間距5.0mm，針尖距離2mm×4支，壓力130gf/支 ?
?PSP探頭MCP-TP06P (RMH112)? 適合?小樣品或薄膜測(cè)試 間距?1.5mm，針尖距離?0.26R×4支?，壓力70gf/支
QP2探頭MCP-TPQP2 (RMH119) 適合微小樣品測(cè)試（矩形排列） 間距1.5mm，,針尖距離0.26R??×4支，壓力70gf/支
BSP探頭MCP-TP05P(RMH111) 適合大樣品測(cè)試 間距2.5mm，針尖距離0.37R×2×2?支，壓力210gf/支?
NSCP探頭MCP-NSCP(RMJ202)特殊用途探針 適合Silicone wafer測(cè)試? 間距1.0mm，針尖距離0.04R×?4支，壓力250gf/支
TFP探頭MCP-TFP(RMJ217)特殊用途探針 適合Thin films on Si wafer測(cè)試 間距1.0mm，針尖距離0.15R×?4支，壓力50gf/支? 四探針探頭檢驗(yàn)塊：???
MCP-TRF1(RMH304) ASP，ESP，LSP探頭用（探頭檢驗(yàn)塊用于測(cè)試前檢查）?
MCP-TRPS(RMH311) PSP探頭用（探頭檢驗(yàn)塊用于測(cè)試前檢查）?
MCP-TRQP2(RMH313) QP2探頭用（探頭檢驗(yàn)塊用于測(cè)試前檢查）?
MCP-TRTF(RMH312)?? TFP，NSCP探頭用（探頭檢驗(yàn)塊用于測(cè)試前檢查）? 二探針探頭：?
AP2探頭MCP-TPAP2(RMH333) 適合測(cè)試大多數(shù)樣品測(cè)試 間距10mm，針尖距離2R×?2支，壓力240gf???/支 ? BP探頭MCP-TPBP(RMH118) 適合大樣品測(cè)試 針尖距離2R×?2支，壓力240gf???/支?? 二探針探頭檢驗(yàn)塊：?
MCP-TRT2(RMH335) AP2，BP探頭用（探頭檢驗(yàn)塊用于測(cè)試前檢查）?? 附件：???
MCP-FS02(RMJ802) 腳踏開(kāi)關(guān)
MCP-ST03(RMJ354) 絕緣板 尺寸 W300×D200×H10mm?? ? |
關(guān)注禾一儀器
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